免费观看黄一级视频,可以免费在线看黄的网站,欧美视频日韩视频,精品国产黄a∨片高清在线

預(yù)存

登錄注冊(cè)

Document

當(dāng)前位置：文庫(kù)百科 ? 文章詳情

一文詳解掃描電子顯微鏡(SEM)的工作原理及應(yīng)用技術(shù)

來(lái)源：時(shí)間：2023-10-08 10:01:33 瀏覽：32087次

一文詳解掃描電子顯微鏡(SEM)的工作原理及應(yīng)用技術(shù)

掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡(jiǎn)稱 SEM）是一種新型的電子光學(xué)儀器，主要用于觀察樣品的表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)。SEM 在上世紀(jì) 60 年代迅速發(fā)展起來(lái)，它位于透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope，簡(jiǎn)稱 TEM）和光學(xué)顯微鏡（Optical Microscope，簡(jiǎn)稱 OM）之間，具有獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域。

一、SEM 的工作原理

SEM 的工作原理可以概括為以下步驟：

1. 電子束的發(fā)射與加速：陰極發(fā)射的電子束經(jīng)過(guò)陽(yáng)極加速，獲得足夠的動(dòng)能以轟擊樣品表面。

2. 電子束的聚焦：通過(guò)磁透鏡對(duì)電子束進(jìn)行聚焦，使其形成一個(gè)細(xì)小的電子束斑，以便于精確地轟擊樣品表面。

3. 樣品表面的激發(fā)：高能電子束轟擊樣品表面時(shí)，會(huì)激發(fā)出多種物理信息，如二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征 X 射線、透射電子等。

4. 信號(hào)的收集與放大：通過(guò)探測(cè)器對(duì)各種電子信號(hào)進(jìn)行收集和放大，將信號(hào)轉(zhuǎn)換為圖像信號(hào)，以便于觀察和分析。

5. 圖像的顯示與分析：將收集到的信號(hào)經(jīng)過(guò)處理后，在顯示屏上顯示出樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)特征。

二、SEM 的應(yīng)用技術(shù)

SEM 作為一種高分辨率的電子顯微鏡，具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，主要包括：

1. 化學(xué)分析：SEM 可以用于觀察樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)，分析元素成分和分布，以及進(jìn)行定量分析等。

2. 生物學(xué)：SEM 可以用于觀察生物組織、細(xì)胞和微生物的表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)，研究其生長(zhǎng)、發(fā)育和病變過(guò)程等。

3. 醫(yī)學(xué)：SEM 可以用于觀察病理組織切片、細(xì)胞和微生物的形態(tài)和結(jié)構(gòu)，輔助診斷和治療等。

4. 金屬材料：SEM 可以用于觀察金屬材料的表面形貌和結(jié)構(gòu)，分析晶粒、相區(qū)和缺陷等，以及進(jìn)行磨損和疲勞等研究。

5. 半導(dǎo)體制造：SEM 可以用于觀察半導(dǎo)體材料的表面形貌和結(jié)構(gòu)，分析晶格、雜質(zhì)和缺陷等，以及進(jìn)行電子束光刻和離子注入等研究。

6. 環(huán)境科學(xué)：SEM 可以用于觀察環(huán)境樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)，分析污染物的形態(tài)和分布等，以及進(jìn)行環(huán)境污染治理和資源回收等研究。

除了上述領(lǐng)域外，SEM 還廣泛應(yīng)用于陶瓷、納米材料、航空航天、能源等研究領(lǐng)域。

三、SEM 的優(yōu)勢(shì)

1. 高分辨率：SEM 具有較高的放大倍數(shù)，可以在納米級(jí)別觀察樣品的表面形貌和結(jié)構(gòu)。

2. 高靈敏度：SEM 可以觀察到樣品表面的細(xì)微變化，如裂紋、孔洞、磨損等。

3. 高深度分辨率：SEM 可以對(duì)樣品表面進(jìn)行深度分析，了解樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和組成。

4. 多功能性：SEM 可以配備多種探測(cè)器和附件，實(shí)現(xiàn)多種分析功能，如能譜分析、波譜分析、電子能量損失譜分析等。

5. 適用性廣泛：SEM 可以觀察各種類型的樣品，如固體、液體、粉末、薄膜等，適用于多種領(lǐng)域。

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種具有高分辨率、高靈敏度、高深度分辨率和化學(xué)分析等優(yōu)點(diǎn)的電子光學(xué)儀器，廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造等研究領(lǐng)域，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，SEM 在納米科技、新材料、環(huán)境保護(hù)等領(lǐng)域的應(yīng)用將更加廣泛和深入。

上一篇：材料檢測(cè)有哪些項(xiàng)目？材料檢測(cè)分析的常見(jiàn)項(xiàng)目盤(pán)點(diǎn)

下一篇：FIB-SEM電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢(shì)

相關(guān)文章

熱重分析（TG-DTG）曲線的幾種解析方法

2023-12-26

BET氣體吸附原理及其技術(shù)發(fā)展

2025-02-21

接觸角測(cè)試（CA）的原理、樣品制備要求及實(shí)際應(yīng)用

2023-11-16

一文詳細(xì)介紹he染色的基本原理、實(shí)驗(yàn)步驟及注意事項(xiàng)

2023-11-23

恒電流間歇滴定法GITT的基本原理以及測(cè)試教程

2022-08-12

?細(xì)胞熱遷移分析技術(shù)cetsa的具體原理和實(shí)驗(yàn)流程

2024-11-29

項(xiàng)目推薦/Project

生物樣SEM

生物冷凍掃描電鏡(Cryo-SEM)

原位掃描電子顯微鏡（in-situ-SEM）

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（SEM）

熱門(mén)文章/popular

基礎(chǔ)理論丨一文了解XPS（概念、定性定量分析、分析方法、譜線結(jié)構(gòu)）

手把手教你用ChemDraw 畫(huà)化學(xué)結(jié)構(gòu)式：基礎(chǔ)篇

晶體結(jié)構(gòu)可視化軟件 VESTA使用教程（下篇）

【科研干貨】電化學(xué)表征：循環(huán)伏安法詳解（上）

電化學(xué)實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)之電化學(xué)工作站篇（二）三電極和兩電極體系的搭建和測(cè)試

【科研干貨】電化學(xué)表征：循環(huán)伏安法詳解（下）

微信掃碼分享文章

舉報(bào)有獎(jiǎng)

TEL: 191-3608-6524

如：在網(wǎng)絡(luò)上惡意使用“測(cè)試狗”等相關(guān)關(guān)鍵詞誤導(dǎo)用戶點(diǎn)擊、惡意盜用測(cè)試狗商標(biāo)、冒稱官方工作人員等情形，請(qǐng)您向我們舉報(bào)，經(jīng)查實(shí)后，我們將給予您獎(jiǎng)勵(lì)。

舉報(bào)內(nèi)容：

200

上傳附件：

文件格式不正確，請(qǐng)重新上傳文件格式不正確，請(qǐng)重新上傳文件格式不正確，請(qǐng)重新上傳

文件格式：jpg、jpeg、png、gif、tif、doc、docx、ppt、pptx、xls、xlsx、pdf、zip、rar

聯(lián)系方式

姓名

電話

提交意見(jiàn)

意見(jiàn)反饋

Suggestions

您可以在此留下您寶貴的意見(jiàn)，您的意見(jiàn)或問(wèn)題反饋將會(huì)成為我們不斷改進(jìn)的動(dòng)力。

意見(jiàn)類型

測(cè)試服務(wù)

網(wǎng)站功能

財(cái)務(wù)報(bào)賬

其他類型

意見(jiàn)內(nèi)容

200

聯(lián)系方式

姓名

電話

提交意見(jiàn)

+

你好，很高興為您服務(wù)！

發(fā)送